文献

J-GLOBAL ID：200902201195508477   整理番号：07A0545854

水素化の際の多層薄膜系についての偏光解析法キャラクタリゼーション

Ellipsometric Characterization on Multi-Layered Thin Film Systems during Hydrogenation

著者 (3件)： SANTJOJO D. J. (Universitas Brawijaya Malang, Jl. Veteran Malang, IDN) ,  AIZAWA Tatsuhiko (Univ. Toronto, Ontario, CAN) ,  MURAISHI S. (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
資料名： Materials Transactions  (Materials Transactions)
巻： 48  号： 6  ページ： 1380-1386  発行年： 2007年06月01日 
JST資料番号： G0668A  ISSN： 1345-9678  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 多層モデル化に基づく偏光解析法キャラクタリゼーションを水素化...

シソーラス用語： *酸化イットリウム ,...
準シソーラス用語： 誘電応答

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=07A0545854&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=G0668A") }}

分類 (1件)： その他の無機化合物の薄膜  (BK14060A)

引用文献 (23件)：

• 1) J. N. Huiberts, J. H. Rector, R. J. Wijngaarden, S. Jetten, D. deGroot, B. Dam, N. J. Koeman, R. Griessen, B. Hjorvarsson, S. Olafsson and Y. S. Cho: J. Alloys Compounds. 239 (1996) 158–171.
• 2) S. J. van der Molen, J. W. J. Kerssemakers, J. H. Rector, N. J. Koeman, B. Dam and R. Giessen: J. Appl. Phys. 86 (1999) 6107–6119.
• 3) R. Giessen, J. N. Huiberts, M. Kremers, A. T. M. van Gogh, N. J. Koeman, J. P. Dekker and P. H. L. Notten: J. Alloys Compounds. 253 (1997) 44–50.
• 4) E. S. Kooij, A. T. M. van Gogh, D. G. Nagengast, N. J. Koeman and R. Giessen: Phys. Rev. B 62 (2000) 10088–10100.
• 5) A. Remhof, J. W. J. Kerssemakers, S. J. van der Molen, R. Giessen and E. S. Kooji: Phys. Rev. B 65 (2002) 054110.

タイトルに関連する用語 (4件)： 水素化 ,  多層薄膜 ,  偏光解析法 ,  キャラクタリゼーション