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J-GLOBAL ID:200902201519371984   整理番号:09A0356661

水酸化フラーレンスラリーを用いたCu-CMP加工法に関する研究-研磨特性の検証-

Study on the Copper-Chemical Mechanical Polishing Method Using Water-Soluble Fullerenol Slurry-Investigation of Polishing Performance-
著者 (6件):
資料名:
巻: 75  号:ページ: 489-495  発行年: 2009年04月05日 
JST資料番号: F0268B  ISSN: 1348-8716  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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本研究では,水酸化フラーレンの研磨砥粒としての特性評価を行い,水酸化フラーレンを用いたCu-CMP用スラリーによる超平坦化加工プロセスの確立を目的とする。本報では,水酸化フラーレン平坦化特性について検討し,その平坦化特性を解析するために銅と水酸化フラーレンの化学反応性について検討した。これにより得た主な知見を次に示した。1)7種類の水酸化フラーレンによる研磨実験結果から,C60(OH)36を研磨砥粒として用いるとRMS値が0.7nmに達すること,これからC60(OH)36が最も研磨砥粒として有効な特性を持つこと,2)C60(OH)36含有スラリーによる研磨実験により,20×20μm2の計測領域でおよそ120sでRMS値が1nm以下に達すること,さらに,平坦化は10×10mm2のウェハ面内で一様であること,3)水酸化フラーレンの銅に対する化学的反応性については,ORP(酸化還元電位)値の高い水酸化フラーレンほど銅に対するエッチング効果が高いこと,4)水酸化フラーレンの銅に対するエッチング効果と平坦化特性の関係を調べ,エッチング効果の高い水酸化フラーレンほど平坦化特性が高いことなど。
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分類 (2件):
分類
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特殊加工  ,  固体デバイス製造技術一般 
引用文献 (14件):
  • 1) 土肥俊郎:詳説 半導体CMP 技術,工業調査会(2000).
  • 2) 土肥俊郎,檜山浩国,福田明,黒河周平:精密工学会誌,73,7,(2007),745.
  • 3) Kondo S., Sakuma N., Homma Y., Goto Y., Ohashi N., Yamaguchi H., Owada N., Journal of Electrochemical Society, 147, 10, (2000), 3907.
  • 4) Zhang, K., Song, Z., Lin, C., Feng, S., Chen, B., Journal of ceramic processing Research, 8, 1, (2007), 52.
  • 5) Kokubo K., Matsubayashi K., Tategaki H., Takada H., Ohshima T., ACS Nano, (2008), 10.1021/nn700151z.
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