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J-GLOBAL ID:200902204108080260   整理番号:04A0785945

超伝導バルク磁石を用いて活性化されたマグネトロンスパッタリングにより調べた高いアスペクト比を持つ200nmクラスの円形通路に対するCu蒸着による底面被覆

Bottom Coverage of Cu Deposit for 200-nm-Class Circular Vias with High Aspect Ratios Investigated by Magnetron Sputtering Activated Using Superconducting Bulk Magnet
著者 (9件):
資料名:
巻: 43  号: 9A  ページ: 6026-6031  発行年: 2004年09月15日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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金属薄膜 
引用文献 (20件):
  • 1) D. Edelstein, J. Heidenreich, R. Goldblatt, W. Cote, C. Uzoh, N. Lustig, P. Roper, T. McDevitt, W. Motsiff, A. Simon, J. Dukovic, R. Wachnik, H. Rathore, R. Schulz, L. Su, S. Luce and J. Slattery: IEEE IEDM Tech. Dig., 1997, p. 773.
  • 2) S. W. Russell, A. J. McKerrow, W.-Y. Shih, A. Singh, R. S. List, A. R. K. Ralston, W. W. Lee, K. J. Newton, M.-C. Chang and R. H. Havemann: Proc. ADMETA Conf., 1997, p. 289.
  • 3) J. G. Ryan, J. E. Heidenreich, W. J. Cote, R. M. Geffken and T. N. Theis: Proc. ADMETA Conf., 1997, p. 399.
  • 4) K. Holloway, P. M. Fryer, C. Cabral, Jr., J. M. E. Harper, P. J. Bailey and K. H. Kelleher: J. Appl. Phys. 71 (1992) 5433.
  • 5) B. Chin, P. Ding, B. Sun, T. Chiang, D. Angelo, I. Hashim, Z. Xu, S. Edelstein and F. Chen: Solid State Tech. 41 (1998) 141.
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