走査型プローブ顕微鏡でセラミックスをみる  スピンSPMによる磁性体の表面観察

細井浩貴; 末岡和久; 武笠幸一

文献

J-GLOBAL ID：200902206739142767 整理番号：03A0701426

走査型プローブ顕微鏡でセラミックスをみるスピンSPMによる磁性体の表面観察

Ceramic Probing by Scanning Probe Microscope Surface Imaging of Magnetic Sample with Spin-SPM

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資料名：
巻： 38 号： 10 ページ： 795-798 発行年： 2003年10月01日
JST資料番号： S0291A ISSN： 0009-031X CODEN： SERAA7 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：解説発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

磁気双極子相互作用の定量的測定を目指した走査型磁気抵抗効果顕...

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金属薄膜 , 固体デバイス材料 , 顕微鏡法

引用文献 (7件)：

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走査型プローブ顕微鏡でセラミックスをみる スピンSPMによる磁性体の表面観察

走査型プローブ顕微鏡でセラミックスをみるスピンSPMによる磁性体の表面観察