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J-GLOBAL ID:200902208699548016   整理番号:08A0372268

「表面界面のナノ力学」絶縁体表面における吸着ナノ物質の静電気力イメージング-バイオ分子への応用-

Electrostatic Force Imaging of Nano-scale Adsorbates on Insulating Substrates-Application to Biological Molecules-
著者 (7件):
資料名:
巻: 29  号:ページ: 246-252  発行年: 2008年04月10日 
JST資料番号: F0940B  ISSN: 0388-5321  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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厚い絶縁体表面に吸着したナノ物質の表面電位分布を計測し画像化する試みについて述べた。走査プローブ顕微鏡を用いた静電気力顕微鏡測定を可能とするため,観測対象への電場変調の印加方法や非接触状態での測定方法について理論的観点及び実験の面から検討を行った。マイカ基板上に分散した金微粒子,及びマイカ基板上に吸着したDNA-翻訳蛋白質複合体の測定例を示した。絶縁体基板上の大きな静電容量にもかかわらず,表面ナノ物質の表面電位や分極の状態を画像化することが可能であった。
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分類 (2件):
分類
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顕微鏡法  ,  表面の電子構造 
引用文献 (20件):
  • 1) H. Sugimura, N. Saito, N. Maeda, I. Ikeda, Y. Ishida, K. Hayashi, L. Hong and O. Takai: Nanotechnology 15, S 69 (2004).
  • 2) R. Akiyama, T. Matsumoto and T. Kawai: Phys. Rev. B 62, 2034 (2000).
  • 3) J.M. Sturm, A.I. Zinine, H. Wormeester, B. Poelsema, R.G. Bankras, J. Holleman and J. Schmitz: J. Appl. Phys. 97, 063709 (2005).
  • 4) C. Loppacher, U. Zerweck and L. M Eng: Nanotechnology 15, S 9 (2004).
  • 5) F. Krok, J.J. Kolodziej, B. Such, P. Czuba, P. Struski, P. Piatkowski and M. Szymonski: Surf. Sci. 566-568, 63 (2004).
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