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J-GLOBAL ID：200902212225405122   整理番号：06A0506632

オンチップ測定用の小型化薄膜磁場プローブの開発

Development of Miniaturized Thin-Film Magnetic Field Probes for On-Chip Measurement

著者 (9件)： ANDO N. (NEC Corp., Kanagawa, JPN) ,  MASUDA N. (NEC Corp., Kanagawa, JPN) ,  TAMAKI N. (NEC Corp., Kanagawa, JPN) ,  KURIYAMA T. (Kinki Univ., Wakayama, JPN) ,  SAITO M. (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  SAITO S. (NEC Corp., Kanagawa, JPN) ,  KATO K. (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  OHASHI K. (NEC Corp., Ibaraki, JPN) ,  YAMAGUCHI M. (Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名： 日本応用磁気学会誌  (Journal of the Magnetics Society of Japan)
巻： 30  号： 4  ページ： 429-434  発行年： 2006年07月01日 
JST資料番号： Z0944A  ISSN： 0285-0192  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： LSIチップ上の高周波電流の絶対値を得ることを目的とした,高...

シソーラス用語： *磁気探針 ,...

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分類 (2件)： 磁気の計測法・機器  (AD07060U) ,  電流,電圧,電荷の計測法・機器  (AD07020C)

引用文献 (8件)：

• 1) T. Sudo, H. Sasaki, N. Masuda, and J. L. Drewniak: IEEE Trans. Adv. Packag., 27, 304 (2004).
• 2) M. Iwanami, S. Hoshino, M. Kishi, and M. Tsuchiya: IEEE Symp. EMC, 1, Boston, (2003), p. 347.
• 3) N. Masuda, N. Tamaki, T. Watanabe, and K. Ishizuka: NEC Res. &Develop., 42, 246 (2001).
• 4) N. Masuda, N. Tamaki, T. Kuriyama, J. C. Bu, M. Yamaguchi, and K. I. Arai: IEEE Symp. EMC, 1, Boston, (2003), p. 80.
• 5) N. Tamaki, N. Masuda, T. Kuriyama, J. C. Bu, M. Yamaguchi, and K. I. Arai: Electronics and Communications in Japan, Part2, 88, 37(2005).

タイトルに関連する用語 (5件)： オンチップ ,  薄膜 ,  磁場 ,  プローブ ,  開発