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J-GLOBAL ID：200902214687618612   整理番号：06A0058543

オングストローム以下のカンチレバー振幅を用いた原子間力顕微鏡法

Atomic Force Microscopy Utilizing SubAngstrom Cantilever Amplitudes

著者 (5件)： KAWAKATSU Hideki (Instutute of Industrial Sci., Univ. of Tokyo, JPN) ,  KAWAI Shigeki (Japan Sci. and Technol. Agency, JPN) ,  KOBAYASHI Dai (Japan Sci. and Technol. Agency, JPN) ,  KITAMURA Shin-ichi (JEOL Ltd., JPN) ,  MEGURO Sakae (Neoark Corp., JPN)
資料名： e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web)  (e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web))
巻： 4  ページ： 110-114 (J-STAGE)  発行年： 2006年 
JST資料番号： U0016A  ISSN： 1348-0391  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ダイナミックモード原子間力顕微鏡法の大きい問題は,自己励起を...

シソーラス用語： *原子間力顕微鏡 ,...
準シソーラス用語： ダイナミックモード

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分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (9件)：

• [1] G. Binnig, C. F. Quate, and Ch. Gerber, Atomic Force Microscope, Phys, Rev. Lett. 56, 930 (1986).
• [2] F. J. Giessibl, Atomic resolution of the silicon(111) 7× 7 surface by atomic force microscopy, Science 267, 68 (1995).
• [3] F. J. Giessibl, Advances in atomic force microscopy, Rev. Mod. Phys. 75, 949 (2003).
• [4] T. Fukuma K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada, True atomic resolution in liquid by frequency-modulation atomic force micrscopy, Appl. Phys. Lett. 87, 034101 (2005).
• [5] F. J. Giessibl, Atomic resoolution on Si(111)-7× 7 by noncontact atomic force microscopy with a force sensor based on a quartz tuning fork, Appl. Phys. Lett. 76, 1470 (2000).

タイトルに関連する用語 (4件)： オングストローム ,  カンチレバー ,  振幅 ,  原子間力顕微鏡法