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J-GLOBAL ID：200902218085411230   整理番号：07A0775080

T=5Kでスピードアップした放射性崩壊 C₆₀に閉じ込めた⁷Beの電子捕獲崩壊率

Radioactive Decay Speedup at T=5K: Electron-Capture Decay Rate of ⁷Be Encapsulated in C₆₀

著者 (7件)： OHTSUKI T. (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  OHNO K. (Yokohama National Univ., Yokohama, JPN) ,  MORISATO T. (Accelrys K.K., Tokyo, JPN) ,  MITSUGASHIRA T. (Tohoku Univ., Ibaraki, JPN) ,  HIROSE K. (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  YUKI H. (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  KASAGI J. (Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 98  号： 25  ページ： 252501.1-252501.4  発行年： 2007年06月22日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： C₆₀に入れたT=5Kでの<sup>7...

シソーラス用語： 実験 ,...
準シソーラス用語： C60フラーレン ,...

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分類 (1件)： 核崩壊一般  (BG03010Z)

タイトルに関連する用語 (4件)： スピードアップ ,  放射性崩壊 ,  C60 ,  電子捕獲崩壊