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J-GLOBAL ID：200902218722809570   整理番号：05A0423961

二次元Siマルチドットを通過する単一正孔の輸送における電流変動

Current fluctuation in single-hole transport through a two-dimensional Si multidot

著者 (4件)： NURYADI Ratno (Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN) ,  IKEDA Hiroya (Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN) ,  ISHIKAWA Yasuhiko (Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN) ,  TABE Michiharu (Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 86  号： 13  ページ： 133106.1-133106.3  発行年： 2005年03月28日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 二次元のSiマルチドットチャンネル電界効果トランジスタにおけ...

シソーラス用語： *正孔 ,...

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分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (6件)： Si ,  マルチ ,  ドット ,  正孔 ,  輸送 ,  電流変動