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J-GLOBAL ID：200902227914379110   整理番号：09A0205015

光カーゲート法を用いたZnO薄膜の時間分解発光スペクトル:励起強度依存性

著者 (6件)： 若生周治 (大阪市大 大学院工学研究科) ,  市田秀樹 (大阪大 先端科学イノベーションセ) ,  溝口幸司 (大阪市大 大学院工学研究科) ,  KIM D. (大阪市大 大学院工学研究科) ,  兼松泰男 (大阪大 先端科学イノベーションセ) ,  中山正昭 (大阪市大 大学院工学研究科)
資料名： 光物性研究会論文集  (Proceedings of the Symposium of Association for Condensed Matter Photophysics, Japan)
巻： 17th  ページ： 229-232  発行年： 2006年 
JST資料番号： L3956A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： スパッタリング法で作製したZnO薄膜を高密度励起したときの発光スペクトルの動力学を極低温(10K)のKerrゲート時間分解分光法で調べた。このような半導体薄膜は励起子-励起子散乱発光(P発光)に加えて,励起子分子からの電子・正孔プラズマ発光も観測される。P発光の減衰時間は励起強度に依存し,フォトン型ポラリトンの寿命を反映することが分かった。また,有効温度の時間変化を反映するP発光ピークエネルギーの時間変化からは,励起子系の冷却過程を明確に観測された。電子・正孔プラズマ状態から励起子状態への動的変遷過程も明らかにした。

シソーラス用語： *半導体薄膜 ,  *酸化亜鉛 ,  *発光スペクトル ,  *光ポンピング ,  エネルギー依存性 ,  タイムドメイン分光法 ,  Kerr効果 ,  スパッタリング ,  動力学 ,  極低温 ,  *励起子 ,  散乱 ,  光ルミネセンス ,  励起子分子 ,  プラズマ共鳴 ,  減衰時間 ,  ポラリトン ,  寿命 ,  時間依存性

分類 (3件)： 酸化物薄膜  (BK14050P) ,  半導体のルミネセンス  (BM08092S) ,  励起子  (BM02120E)

タイトルに関連する用語 (6件)： ゲート ,  ZnO薄膜 ,  分解 ,  発光スペクトル ,  励起 ,  強度依存性