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J-GLOBAL ID：200902230998073097   整理番号：08A1231563

近接場複屈折率測定による液晶膜の垂直配向プロファイリングとアンカリング効果の直接評価

Direct Evaluation of Anchoring Effects and Vertical Orientation Profiling of Liquid Crystal Films by Near-Field Birefringence Measurement

著者 (3件)： QIN Jing (Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN) ,  IWAMI Kentaro (Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN) ,  UMEDA Norihiro (Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN)
資料名： Applied Physics Express  (Applied Physics Express)
巻： 1  号： 11  ページ： 111501.1-111501.3  発行年： 2008年11月25日 
JST資料番号： F0599C  ISSN： 1882-0778  CODEN： APEPC4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 液晶膜の分子配向プロファイルとアンカリング効果を同時に評価する方法を提案した。ホメオトロピック配列した液晶分子の局所複屈折率変化を検出し,走査近接場光学顕微鏡(SNOM)により深さ方向に沿ってプロファイルした。SNOMプローブで生じた再配向に対する分子応答から,整列層のアンカリング強度を観測した。アンカリング強度の異なる三ホメオトロピック配列層を評価して方法の信頼度を確認した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 複屈折 ,  屈折率 ,  走査型プローブ顕微鏡 ,  走査光学顕微鏡 ,  *アンカリング【液晶】 ,  *ホメオトロピック配列 ,  分子配向 ,  *液晶 ,  近接場光学顕微鏡
準シソーラス用語： プロファイリング ,  走査近接場光学顕微鏡

分類 (1件)： 液晶一般  (BK03010L)

引用文献 (35件)：

• PERSHAN, P. S. Phys. Rev. Lett. 1984, 52, 759
• GRAMSBERGEN, E. F. J. Phys. (Paris). 1986, 47, 711
• MIYANO, K. Phys. Rev. Lett. 1979, 43, 51
• BEAGLEHOLE, D. Mol. Cryst. Liq. Cryst. 1982, 89, 319
• GUYOT-SIONNEST, P. Phys. Rev. Lett. 1986, 57, 2963

タイトルに関連する用語 (7件)： 近接場 ,  複屈折率 ,  液晶 ,  垂直配向 ,  プロファイリング ,  アンカリング ,  評価