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J-GLOBAL ID:200902234998845583   整理番号:04A0097180

誘導結合Cl2/HBrプラズマ中のメタルゲートエッチングによるゲート誘電体表面の粗さ変化

Roughness Variations on Gate Dielectric Surfaces through Metal Gate Etching in Inductively Coupled Cl2/HBr Plasmas
著者 (9件):
資料名:
巻: 3rd  ページ: 105-110  発行年: 2003年11月13日 
JST資料番号: Y0378B  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
固体デバイス製造技術一般  ,  プラズマ応用 

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