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J-GLOBAL ID：200902237532643831   整理番号：06A0705584

Auクラスター一次イオン源を用いたTOF-SIMS測定における二次イオン強度増大効果

Enhancement of Secondary Ion Intensities from Polymers in the TOF-SIMS Analysis using Gold Cluster Ions

著者 (6件)： 工藤正博 (成けい大 理工) ,  相本健一 (成けい大 理工) ,  加藤信彦 (成けい大 理工) ,  青柳里果 (島根大 生物資源科学) ,  飯田典子 (アルバックファイ) ,  山本公 (アルバックファイ)
資料名： 表面科学  (JSSSJ)
巻： 27  号： 9  ページ： 518-522  発行年： 2006年09月10日 
JST資料番号： F0940B  ISSN： 0388-5321  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ポリエチレングリコール(PEG;平均分子量400,1000,...

シソーラス用語： *二次イオン質量分析 ,...
準シソーラス用語： TOF-SIMS

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分類 (1件)： 有機化合物の物理分析  (CC03034A)

引用文献 (9件)：

• KOTTER, F. Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS-XI). 1998, XI, 459
• KOTTER, F. Appl. Surf. Sci. 1998, 133, 47
• HAGENHOFF, B. Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS-XI). 1998, XI, 585
• GILLEN, G. Appl. Surf. Sci. 2003, 203/204, 209
• KOLLMER, F. Appl. Surf. Sci. 2004, 231/232, 153

タイトルに関連する用語 (6件)： Au ,  クラスター ,  イオン源 ,  TOF-SIMS ,  二次イオン ,  強度増大