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J-GLOBAL ID：200902239226551217   整理番号：08A1001185

蛍光X線分析法による液液界面・固液界面近傍の元素分布測定

著者 (4件)： 西田吉彦 (大阪市大 大学院) ,  中野和彦 (大阪市大 大学院) ,  中野和彦 (JST) ,  辻幸一 (大阪市大 大学院)
資料名： 日本分析化学会年会講演要旨集  (分析化学講演要旨集)
巻： 57th  ページ： 20  発行年： 2008年08月27日 
JST資料番号： G0563B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *界面化学 ,  多元素分析 ,  *濃度分布 ,  液液界面 ,  固液界面 ,  *エネルギー分散蛍光X線分析 ,  導波路 ,  コリメータ ,  深さプロフィル ,  深さ分析 ,  微量分析 ,  性能評価

分類 (2件)： その他の物理分析  (CC03014E) ,  界面化学一般  (CB12010J)

タイトルに関連する用語 (5件)： 蛍光X線分析法 ,  液液界面 ,  固液界面 ,  近傍 ,  元素分布