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J-GLOBAL ID:200902241553670771   整理番号:04A0797821

4H-SiCエピタキシャル層の基底面転位におよぼす成長条件の影響

Influence of growth conditions on basal plane dislocation in 4H-SiC epitaxial layer
著者 (6件):
資料名:
巻: 271  号: 1/2  ページ: 1-7  発行年: 2004年10月15日 
JST資料番号: B0942A  ISSN: 0022-0248  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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半導体薄膜 
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