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J-GLOBAL ID:200902249194851472   整理番号:04A0786028

高分解能半導体レーザ分光によるYIの超微細構造とZeemanシフトの測定

Measurement of the Hyperfine Structure and Zeeman Shift in Y I by High-Resolution Diode-Laser Spectroscopy
著者 (5件):
資料名:
巻: 43  号: 9A  ページ: 6423-6424  発行年: 2004年09月15日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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YIの2個の遷移に対する超微細構造(hfs)とZeemanシ...
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分類 (2件):
分類
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原子の性質  ,  可視・紫外スペクトル 
引用文献 (6件):
  • 1) R. B. Firestone, V. S. Shirley, C. M. Baglin, S. Y. F. Chu and J. Zipkin: <I>Table of Isotopes</I> (John Wiley & Sons, New York, 1996).
  • 2) S. Buttgenbach: Hyperfine Structure in 4d- and 5d-Shell Atoms (Springer, Berlin, 1982).
  • 3) P. Raghavan: Atom. Data Nucl. Data Tables 42 (1989) 189.
  • 4) C. E. Moore: Atomic Energy Levels (U. S. GPO, Washington D. C., 1952) Vol. II, NBS Circular 467.
  • 5) W. G. Jin, T. Endo, H. Uematsu, T. Minowa and H. Katsuragawa: Phys. Rev. A 63 (2001) 064501.
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