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J-GLOBAL ID：200902249644506215   整理番号：05A0606443

歪が緩和したSiGe/Si(001)系における純粋な刃状転位網

Pure-edge dislocation network for strain-relaxed SiGe/Si(001) systems

著者 (5件)： SAKAI Akira (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  TAOKA Noriyuki (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  NAKATSUKA Osamu (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  ZAIMA Shigeaki (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  YASUDA Yukio (Kochi Univ. Technol., Kochi, JPN)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 86  号： 22  ページ： 221916.1-221916.3  発行年： 2005年05月30日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 歪が緩和したSiGe/Si(001)系の界面に存在する純粋な...

シソーラス用語： *ケイ素 ,...

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分類 (1件)： 半導体の格子欠陥  (BK12040Q)

タイトルに関連する用語 (6件)： 歪 ,  緩和 ,  SiGe ,  Si ,  系 ,  刃状転位