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J-GLOBAL ID：200902253740466299   整理番号：05A0054398

混合モード3次元シミュレーションによる改良型FD-SOI SRAMのSEU耐性に与えるボディタイ効果の解析

Analysis of Body-Tie Effects on SEU Resistance of Advanced FD-SOI SRAMs Through Mixed-Mode 3-D Simulations

著者 (7件)： HIROSE K (Inst. Space and Astronautical Sci., Kanagawa, JPN) ,  SAITO H (Inst. Space and Astronautical Sci., Kanagawa, JPN) ,  FUKUDA S (Inst. Space and Astronautical Sci., Kanagawa, JPN) ,  KURODA Y (Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN) ,  ISHII S (Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN) ,  TAKAHASHI D (Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN) ,  YAMAMOTO K (Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 51  号： 6,Pt.2  ページ： 3349-3353  発行年： 2004年12月 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 0.2μm設計規則の完全空乏型シリコン・オン・インシュレータ...

シソーラス用語： *SRAM ,...

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分類 (2件)： 半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (9件)： 混合モード ,  3次元シミュレーション ,  SOI ,  SRAM ,  SEU ,  耐性 ,  ボディ ,  タイ ,  解析