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J-GLOBAL ID：200902253844828117   整理番号：07A0505618

相互変調ひずみを用いた電気接続不良の非接触検出

著者 (4件)： 久我宣裕 (横浜国大 大学院工学研究院) ,  大西健一 (横浜国大 工) ,  土井充 (横浜国大 工) ,  遠藤充哲 (横浜国大 工)
資料名： エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集  (Proceedings of the JIEP Annual Meeting)
巻： 21st  ページ： 179-180  発行年： 2007年02月26日 
JST資料番号： X0498A  ISSN： 1880-4616  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *非接触測定 ,...
準シソーラス用語： *相互変調歪

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分類 (2件)： ろう付  (WC07050C) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 相互変調ひずみ ,  電気接続 ,  非接触