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J-GLOBAL ID：200902254275413880   整理番号：05A0014792

非線形誘電率顕微鏡と次世代超高密度強誘電体記録

Scanning Nonlinear Dielectric Microscope and Its Application to Next Generation Super High-Density Ferroelectric Data Storage

著者 (4件)： 長康雄 (東北大 電通研) ,  小田川裕之 (東北大 電通研) ,  大原鉱也 (東北大 電通研) ,  平永良臣 (東北大 電通研)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 C  (IEICE Transactions on Electronics (Japanese Edition))
巻： J88-C  号： 1  ページ： 1-12  発行年： 2005年01月01日 
JST資料番号： S0623C  ISSN： 1345-2827  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： サブナノメータの分解能で強誘電体の分極を可視化できる高分解能...

シソーラス用語： *強誘電体 ,...

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分類 (2件)： 電子・磁気・光学記録  (NC06020F) ,  誘電体測定技術・装置  (BM05020Q)

引用文献 (19件)：

• 長康雄. 非線形誘電率分布測定用顕微鏡. 信学論 (C-I). 1995, J78-C-1, 11, 593-598
• CHO, Y. Scanning nonlinear dielectric microscope. Rev. Sci. Instrum. 1996, 67, 6, 2297-2303
• CHO, Y. Scanning nonlinear dielectric microscopy with nanometer resolution. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 18, 2833-2835
• CHO, Y. Quantitative measurement of linear and nonlinear dielectric characteristic using scanning nonlinear dielectric microscopy. Jpn. J. Appl. Phys., B. 2000, 39, 5, 3086-3089
• KAZUTA, S. Determination of the polarities of ZnO thin films on polar and nonpolar substrates using scanning nonlinear dielectric microscopy. Jpn. J. Appl. Phys., B. 2000, 39, 5, 3121-3124

タイトルに関連する用語 (6件)： 非線形 ,  誘電率 ,  顕微鏡 ,  次世代 ,  高密度 ,  強誘電体