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J-GLOBAL ID：200902258370419590   整理番号：08A1077540

1-エチル-3-メチルイミダゾリウムビス(トリフルオロメチルスルホニル)イミドRT(室温)イオン液体の飛行時間二次イオン質量分析研究

A time-of-flight secondary ion mass spectroscopy study of 1-ethyl-3-methylimidazolium bis(trifluoromethylsulfonyl)imide RT-ionic liquid

著者 (4件)： GUENSTER Jens (International Center for Young Scientists, National Inst. for Materials Sci., 1-1 Namiki, Tsukuba, Ibaraki 305-0044, JPN) ,  HOEFFT Oliver (Inst. fuer Metallurgie, Technische Universitaet Clausthal, Robert-Koch-Strasse 42, D-38678 Clausthal-Zellerfeld, DEU) ,  KRISCHOK Stefan (Inst. fuer Physik und Inst. fuer Mikro- und Nanotechnologien der TU Ilmenau, P.O. Box 100565, D-98684 Ilmenau, DEU) ,  SOUDA Ryutaro (Nanoscale Materials Center, National Inst. for Materials Sci., 1-1 Namiki, Tsukuba, Ibaraki 305-0044, JPN)
資料名： Surface Science  (Surface Science)
巻： 602  号： 21  ページ： 3403-3407  発行年： 2008年11月01日 
JST資料番号： C0129B  ISSN： 0039-6028  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 飛行時間二次イオン質量分析(TOF-SIMS)を利用し,温度範囲160~300K下,室温イオン液体1-エチル-3-メチルイミダゾリウムビス(トリフルオロメチルスルホニル)イミド([EMIM][Tf₂N])の表面構造転移を研究した。結晶表面の[EMIM]⁺カチオン強度は,ガラス状表面や液体表面のものの約2倍になる一方,[Tf₂N]^-部分からのフラグメントイオンは結晶化でほとんど変らない。この現象は,表面組成よりむしろ最表面層の対イオンと関連するカチオンの立体効果に起因する。[EMIM]⁺のイミダゾリウム環が表面平面に平行に配置される結晶表面の特別な層状構造が,[EMIM]⁺イオン放出強化の原因であると考えられた。ガラス状膜や液体膜からの弱い[EMIM]⁺強度はイミダゾリウム環が表面に平行でないことを証明している。Copyright 2008 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *二次イオン質量分析 ,  *イオン液体 ,  表面構造 ,  構造相転移 ,  イオン強度 ,  立体効果 ,  層状組織 ,  *室温イオン液体 ,  *TOF-SIMS ,  構造
準シソーラス用語： 層状構造 ,  *飛行時間二次イオン質量分析

分類 (3件)： 融解塩  (CB05050R) ,  質量スペクトル(分子)  (BH06100V) ,  有機化合物の物理分析  (CC03034A)

物質索引 (2件)： 1-エチル-3-メチルイミダゾリウム ,  ビス(トリフルオロメタンスルホン)イミド

タイトルに関連する用語 (8件)： 1-エチル-3-メチルイミダゾリウム ,  ビス ,  イミド ,  RT ,  室温 ,  イオン液体 ,  飛行時間二次イオン質量分析 ,  研究