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J-GLOBAL ID：200902263818930979   整理番号：08A0360130

カチオン空孔による酸化物イオン伝導を示すZn₂TiO₄の欠陥構造

Defect structure of Ta- and Al- doped Zn₂TiO₄ showing oxide ion conduction via cation vacancy

著者 (4件)： TAKAI Shigeomi (Dep. of Materials Sci., Fac. of Engineering, Tottori Univ.) ,  OKADA Hirotaka (Dep. of Materials Sci., Fac. of Engineering, Tottori Univ.) ,  OHOYAMA Kenji (Inst. for Materials Res., Tohoku Univ.) ,  ESAKA Takao (Dep. of Materials Sci., Fac. of Engineering, Tottori Univ.)
資料名： Journal of the Ceramic Society of Japan  (Journal of the Ceramic Society of Japan)
巻： 116  号： 1352  ページ： 525-529 (J-STAGE)  発行年： 2008年 
JST資料番号： F0382A  ISSN： 1882-0743  CODEN： JCSJEW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Zn_2-x/2Ti_1-xO₄の欠陥構造及び引き続く酸化物イオン伝導を調べるため,Ta⁵⁺と等モルのAl³⁺をZn₂TiO₄中のTi⁴⁺イオンと部分的に置換し,タンタル置換にもかかわらず顕著なカチオン空孔がないZn₂Ti_1-2xTa_xAl_xO₄が形成した。逆スピネル型固溶体は約x=0.3まで形成し,測定した粉末の密度は全てのカチオンサイトがほとんど占有されるとした公称モデルと一致した。二重のxで置換したZn_2-x/2Ti_1-xO₄では酸化物イオン伝導の僅かな現象が観察されたが,Zn₂Ti_1-2xTa_xAl_xO₄では明らかに増加し,Zn₂TiO₄系における酸化物イオン伝導ではカチオン空孔が原因であることが示唆された。粉末中性子回折で欠陥構造を明らかにし,それから,酸化物イオン伝導濃度メカニズムに関して酸化物イオンの推測した等方性温度係数により検討した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 固体電解質燃料電池 ,  *固体電解質 ,  *酸化物 ,  *チタン酸塩 ,  亜鉛化合物 ,  イオン伝導 ,  格子欠陥 ,  置換 ,  タンタル ,  アルミニウム ,  金属イオン ,  カチオン ,  空孔欠陥 ,  微細構造 ,  予測モデル ,  中性子回折 ,  X線回折 ,  電気伝導率 ,  起電力 ,  温度依存性 ,  濃度依存性 ,  構造パラメータ ,  格子定数 ,  モデル
準シソーラス用語： *結晶構造欠陥

分類 (2件)： セラミック・磁器の性質  (YC03030G) ,  混合伝導  (BM03060U)

引用文献 (11件)：

• 1) S. Nakayama, T. Kageyama, H. Aono and Y. Sadaoka, J. Mater. Chem., 5, 1801-1805 (1995).
• 2) H. Yoshikawa and S. Kikkawa, J. Mater. Chem., 8, 1821-1826 (1998).
• 3) P. R. Slater, J. E. H. Sansom and J. R. Tolchard, Chem. Rec., 4, 373(2004).
• 4) T. Esaka, T. Ikebe and M. Kamata, Denki Kagaku (presently Electrochemistry), 61, 749-750 (1993).
• 5) T. Esaka, T. Ikebe and M. Kamata, Solid State Ionics, 76, 237-242 (1995).

タイトルに関連する用語 (5件)： カチオン ,  空孔 ,  酸化物イオン ,  伝導 ,  欠陥構造