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J-GLOBAL ID：200902264025311824   整理番号：07A0898358

Q値制御法による位相変調方式原子間力顕微鏡の感度向上

Improvement of the Sensitivity of Phase-Modulation Atomic Force Microscopy using Q-control Technique

著者 (9件)： 小林成貴 (大阪大 大学院工学研究科) ,  LI Yan Jun (大阪大 大学院工学研究科) ,  内藤賀公 (大阪大 大学院工学研究科) ,  影島賢巳 (大阪大 大学院工学研究科) ,  LI Yan Jun (JST-CREST) ,  内藤賀公 (JST-CREST) ,  影島賢巳 (JST-CREST) ,  菅原康弘 (大阪大 大学院工学研究科) ,  菅原康弘 (JST-CREST)
資料名： 表面科学  (JSSSJ)
巻： 28  号： 9  ページ： 532-535  発行年： 2007年09月10日 
JST資料番号： F0940B  ISSN： 0388-5321  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 位相変調方式原子間力顕微鏡(PM-AFM)による大気中あるい...

シソーラス用語： *原子間力顕微鏡 ,...
準シソーラス用語： カンチレバー ,...

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分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (7件)：

• 1) G. Binnig, C.F. Quate and Ch. Gerber: Phys. Rev. Lett. 56, 930 (1986).
• 2) J. Trinick, G. Offer, P. Hallet, L. Tskgovrebova and M.J. Miles: J. Bac. Sci. B. 14, 1444 (1996).
• 3) T.R. Rodríguez and R. García: Appl. Phys. Lett. 82, 4821 (2003).
• 4) N. Kobyashi, Y.J. Li, Y. Naitoh, M. Kageshima and Y. Sugawara: Jpn. J. Appl. Phys. 45, L793 (2006).
• 5) A.D.L. Humphris, J. Tamayo and M.J. Miles: Appl. Phys. Lett. 77, 582 (2000).

タイトルに関連する用語 (5件)： Q値 ,  制御法 ,  位相変調 ,  原子間力顕微鏡 ,  感度向上