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J-GLOBAL ID:200902269315959285   整理番号:03A0394425

MOSFETからのホットキャリア誘起光電子放出のスペクトル解析のためのテスト構造

A Test Structure for Spectrum Analysis of Hot-Carrier-Induced Photoemission From MOSFETs
著者 (6件):
資料名:
巻: 16  号:ページ: 233-238  発行年: 2003年05月 
JST資料番号: T0521A  ISSN: 0894-6507  CODEN: ITSMED  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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サブクォータミクロンn-MOSFETからの十分な光電子放出強...
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