ナノ構造解析へのX線異常分散を活用した小角X線散乱の応用

SUGIYAMA Masaaki; SOEJIMA Yuji; HARA Kazuhiro; TAKEI Fumie; ITOH Keiji; MORI Kazuhiro; FUKUNAGA Toshiharu

文献

J-GLOBAL ID：200902270756430229 整理番号：05A0944138

ナノ構造解析へのX線異常分散を活用した小角X線散乱の応用

Application of Small-Angle X-ray Scattering Utilizing X-ray Anomalous Dispersion to Nano-Structure Analysis

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資料名：

Transactions of the Materials Research Society of Japan (Transactions of the Materials Research Society of Japan)

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巻： 30 号： 3 ページ： 855-858 発行年： 2005年09月
JST資料番号： L4468A ISSN： 1382-3469 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

抄録/ポイント：

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X線異常分散効果を活用した小角X線散乱を,異常原子を繰返し位...

シソーラス用語：

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,...
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異常原子

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分子化合物の結晶構造

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(BK01020I)

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フェロセンカルボン酸

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1-ドデシル-1,3-シクロペンタジエンについて

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1,3-シクロペンタジエン-1-カルボン酸

1,3-シクロペンタジエン-1-カルボン酸について

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