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J-GLOBAL ID:200902275383141215   整理番号:08A0557535

シリコン-ゲルマニウムソースを有する二重ゲートトンネル電界効果トランジスタの素子設計及びスケーラビリティ

Device Design and Scalability of a Double-Gate Tunneling Field-Effect Transistor with Silicon-Germanium Source
著者 (7件):
資料名:
巻: 47  号: 4 Issue 2  ページ: 2593-2597  発行年: 2008年04月25日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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シリコン-ゲルマニウム(SiGe)ソースを有する新しい二重ゲート(DG)トンネル電界効果トランジスタ(TFET)を提案し,相補型金属-酸化物-半導体(CMOS)技術のスケーリング限界を克服し,Mooreの法則をさらに拡張した。SiGeソースの狭いバンドギャップはトンネル幅を低減するのに役立ち,サブしきい値スイングを改善し,オン状態電流を改善した。極めて低いオフ状態電流の60mV/decade以下のサブしきい値スイングを,素子パラメータ及びソースにおけるGe含有量を最適化することにより達成した。初めて,このような技術が,拡張シミュレーションによるロードマップの目標を通して,高性能,低待機電力,及び低電力技術に関してCMOSに取って代わる可能性があることを示した。(翻訳著者抄録)
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分類 (3件):
分類
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トランジスタ  ,  金属-絶縁体-半導体構造  ,  固体デバイス製造技術一般 
引用文献 (13件):
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