文献

J-GLOBAL ID：200902275962600710   整理番号：08A0425288

STMを用いたSi(111)7×7表面上の4,4”-Ddiamino-p-Tterphenylの観察

著者 (6件)： 西村高志 (北陸先端科学技術大学院大) ,  板橋敦 (北陸先端科学技術大学院大) ,  村田英幸 (北陸先端科学技術大学院大) ,  富取正彦 (北陸先端科学技術大学院大) ,  新井豊子 (金沢大 理) ,  新井豊子 (JST-SORST)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
巻： 55th  号： 2  ページ： 680  発行年： 2008年03月27日 
JST資料番号： Y0054A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ケイ素 ,  単結晶 ,  基板 ,  清浄面 ,  *吸着 ,  積層欠陥 ,  *選択性 ,  真空蒸着 ,  *走査型トンネル顕微鏡 ,  芳香族炭化水素 ,  アミノ基 ,  電気陰性度 ,  格子欠陥

分類 (2件)： 物理的手法を用いた吸着の研究  (CB12043P) ,  有機化合物の薄膜  (BK14070L)

物質索引 (1件)： 4,4′-(1,4-フェニレン)ビスアニリン

タイトルに関連する用語 (3件)： STM ,  Si ,  観察