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J-GLOBAL ID：200902280633018531   整理番号：03A0438629

走査型音響顕微鏡およびナノインデンテーションテスタによる塗膜劣化に対する膜厚の影響

Effect of Film Thickness on Coated Film Degradation by Scanning Acoustic Microscope and Nanoindentation Tester

著者 (4件)： HIROSE N (Tokyo Metropolitan Coll. Aeronautical Engineering, Tokyo, JPN) ,  TANAKA S (Tokyo Metropolitan Tama Small and Medium-sized Business Promotion Center, Tokyo, JPN) ,  TANAKI T (Tokyo Metropolitan Industrial Technol. Res. Inst., Tokyo, JPN) ,  SEKINE I (Tokyo Univ., Chiba, JPN)
資料名： Journal of the Electrochemical Society  (Journal of the Electrochemical Society)
巻： 150  号： 6  ページ： B282-B287  発行年： 2003年06月 
JST資料番号： C0285A  ISSN： 1945-7111  CODEN： JESOAN  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 鋼板に塗った顔料配合長鎖アルキド樹脂塗料膜の3%NaCl溶液...

シソーラス用語： 塗膜 ,...
準シソーラス用語： 走査型音響顕微鏡 ,...

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分類 (3件)： 高分子固体のその他の性質  (CG02025L) ,  プラスチック被覆  (WC08060U) ,  有機化合物の薄膜  (BK14070L)

タイトルに関連する用語 (3件)： 走査型音響顕微鏡 ,  塗膜劣化 ,  膜厚