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J-GLOBAL ID：200902282770230486   整理番号：07A1102348

Fourier解析精密化を用いたマイクロ波誘電地図の雑音削減

Noise Reduction of Microwave Dielectric Map using Fourier Analysis Refinement

著者 (6件)： KAKEMOTO Hirofumi (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  HARIGAI Takakiyo (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  LI Jianyong (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  NAM Song-Min (Kwangwoon Univ., Seoul, KOR) ,  WADA Satoshi (Univ. Yamanashi, Kofu, JPN) ,  TSURUMI Takaaki (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 46  号： 10B  ページ： 7097-7100  発行年： 2007年10月30日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 多層セラミックコンデンサ断面の誘電地図を示す面内反射強度地図...

シソーラス用語： Fourier解析 ,...
準シソーラス用語： *セラミックコンデンサ

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分類 (3件)： LCR部品  (NA05030D) ,  セラミック・磁器の性質  (YC03030G) ,  圧電気,焦電気,エレクトレット  (BM05040M)

引用文献 (11件)：

• M. N. Afsar, J. R. Birch, and P. N. Clarke: Proc. IEEE 74(1986)183.
• A. J. Moulson and J. M. Herbert: Electroceramics, Properties, Applications (Chapman & Hall, New York, 1990) 1st ed., p. 74.
• H. Chazono and H. Kishi: Jpn. J. Appl. Phys.40(2001)5624.
• E. A. Ash and G. Nicholls: Nature 237(1972)510.
• T. Wei, X.-D. Xiang, W. G. Wallace-Freedman, and P. G. Schultz: Appl. Phys. Lett.68(1996)3506.

タイトルに関連する用語 (5件)： Fourier解析 ,  精密化 ,  マイクロ波 ,  地図 ,  雑音削減