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J-GLOBAL ID：200902288611090787   整理番号：08A0495363

ELイメージングによる太陽電池セルの劣化評価

著者 (4件)： 豊田裕之 (JAXA) ,  田中孝治 (JAXA) ,  佐々木進 (JAXA) ,  田島道夫 (JAXA)
資料名： 宇宙航空研究開発機構特別資料 JAXA-SP-  (JAXA Special Publication)
号： 06-035  ページ： 99-104  発行年： 2007年03月30日 
JST資料番号： S0762C  ISSN： 1349-113X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 宇宙機搭載太陽電池の放電により損傷した太陽電池セルの評価方法としてエレクトロルミネセンス(EL)に着目し,電気的特性との関連を調べた。ここでは,科学衛星「あすか」用単結晶Si太陽電池セルを用いて試験用クーポンパネルを作製し,プラズマ源内蔵試験チャンバーで放電特性,外観の変化,VI特性を調べるとともに,EL画像による放電損傷前後の比較検討を行った。その結果,以下の知見を得た。1)プラズマ環境中で最大500Vの電圧印加で,一部のインターコネクタで捕集電流が数十Aに達し,インターコネクタの溶解などの損傷が発生する,2)インターコネクタが損傷した太陽電池セルのVI特性には,シャント抵抗成分の低下を示唆する変化が現れる,3)VI特性が変化した太陽電池セルのEL画像には,pn間の短絡が原因とみられる黒い領域が現れる,4)VI特性とEL画像に現れた変化は,よく対応しており,EL画像は太陽電池セルの損傷評価方法として有効である。

シソーラス用語： 宇宙飛行体 ,  *太陽電池 ,  帯電 ,  放電 ,  *絶縁劣化 ,  劣化故障 ,  *故障診断 ,  エレクトロルミネセンス ,  画像処理 ,  プラズマ曝露 ,  プラズマ相互作用 ,  評価試験
準シソーラス用語： 太陽電池パネル ,  搭載システム

分類 (2件)： 太陽電池  (NC03084O) ,  飛しょう体の設計・構造  (QK04010H)

引用文献 (4件)：

• H. C. Koons, et al.:“The Impact of the Space Environment on Space Systems”, Proc. of Sixth Spacecraft Charging Technology Conference (2000)
• 田島道夫, 藁品正敏, 久松正, 鈴木皓夫:“シリコン太陽電池のルミネッセンス評価”, 1991年春季第38回応用物理学関係連合講演会講演予稿集, Vol.2, No.29aSX12, p.648(1991).
• M. Tajima, M. Warashina, T. Hisamatsu and A. Suzuki:“Characterization of Radiation Damages in Silicon Solar Cells by Photoluminescence Technique”, Proc. 18th Internat. Symp. Space Technology and Science, pp. 2595-2599(1992)
• 豊田裕之, 田中孝治, 佐々木進, 田島道夫:“プラズマ環境における太陽電池セルの放電による劣化”, 第50回宇宙科学技術連合講演会, pp. 1979-1984(2007)

タイトルに関連する用語 (5件)： EL ,  イメージング ,  太陽電池 ,  セル ,  評価