多孔性セラミック加工のin situモニタリングのための発生ガス分析へのイオン付着質量分析の適用

TSUGOSHI Takahisa; NAGAOKA Takaaki; NAKAMURA Megumi; SHIOKAWA Yoshiro; WATARI Koji

文献

J-GLOBAL ID：200902288933661763 整理番号：06A0328834

多孔性セラミック加工のin situモニタリングのための発生ガス分析へのイオン付着質量分析の適用

Application of Ion Attachment Mass Spectrometry to Evolved Gas Analysis for in Situ Monitoring of Porous Ceramic Processing

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巻： 78 号： 7 ページ： 2366-2369 発行年： 2006年04月01日
JST資料番号： A0395A ISSN： 0003-2700 CODEN： ANCHAM 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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