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J-GLOBAL ID：200902290840187489   整理番号：06A0499390

動的モードAFMの光ビーム偏向検出システムにおける干渉効果

The interference effect in an optical beam deflection detection system of a dynamic mode AFM
著者 (8件)：
HUANG Qiang-Xian

HUANG Qiang-Xian について

(Hefei Univ. Technol., Hefei, CHN)

Hefei Univ. Technol., Hefei, CHN について

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HUANG Qiang-Xian

HUANG Qiang-Xian について

(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN)

National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN について

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FEI Ye-Tai

FEI Ye-Tai について

(Hefei Univ. Technol., Hefei, CHN)

Hefei Univ. Technol., Hefei, CHN について

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GONDA Satoshi

GONDA Satoshi について

(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN)

National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN について

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MISUMI Ichiko

MISUMI Ichiko について

(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN)

National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN について

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SATO Osamu

SATO Osamu について

(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN)

National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN について

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KEEM Taeho

KEEM Taeho について

(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN)

National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN について

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KUROSAWA Tomizo

KUROSAWA Tomizo について

(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN)

National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN について


資料名：
Measurement Science and Technology  (Measurement Science and Technology)

Measurement Science and Technology について


巻： 17  号： 6  ページ： 1417-1423  発行年： 2006年06月 
JST資料番号： C0354C  ISSN： 0957-0233  CODEN： MSTCEP  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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動的モード原子間力顕微鏡(AFM)における干渉効果を分析し,...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*原子間力顕微鏡

原子間力顕微鏡 について

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分類 (2件)：
分類
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電子顕微鏡,イオン顕微鏡 
(BD02050B)

電子顕微鏡,イオン顕微鏡 について

,  計測機器一般 
(AD02000X)

計測機器一般 について

タイトルに関連する用語 (5件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
AFM

AFM について

, 
光ビーム

光ビーム について

, 
偏向

偏向 について

, 
検出システム

検出システム について

, 
干渉効果

干渉効果 について


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