GaN電界効果トランジスタにおける緩慢電流過渡および電流崩壊に対するバッファ捕獲効果の物理的シミュレーション

HORIO Kazushige; YONEMOTO Ken; TAKAYANAGI Hiroki; NAKANO Hiroyuki

文献

J-GLOBAL ID：200902294124388274 整理番号：06A0134813

GaN電界効果トランジスタにおける緩慢電流過渡および電流崩壊に対するバッファ捕獲効果の物理的シミュレーション

Physics-based simulation of buffer-trapping effects on slow current transients and current collapse in GaN field effect transistors

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Journal of Applied Physics (Journal of Applied Physics)

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巻： 98 号： 12 ページ： 124502-124502-7 発行年： 2005年12月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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