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J-GLOBAL ID：200902295233896650   整理番号：09A1258141

ウィスパリングギャラリモード共振器を用いるミリメートル波帯における銅クラッド誘電体ラミネート基板の有効電気伝導率の評価

Evaluation of Effective Conductivity of Copper-Clad Dielectric Laminate Substrates in Millimeter-Wave Bands Using Whispering Gallery Mode Resonators

著者 (6件)： TRAN Thi Huong (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  SHE Yuanfeng (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  HIROKAWA Jiro (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  SAKURAI Kimio (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  KOGAMI Yoshinori (Utsunomiya Univ., Utsunomiya-shi, JPN) ,  ANDO Makoto (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
資料名： IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E92-C  号： 12  ページ： 1504-1511  発行年： 2009年12月01日 
JST資料番号： L1370A  ISSN： 0916-8524  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本報告はミリメートル波領域中の銅クラッド誘電体ラミネート基板の有効導電率を決定する測定方法について述べる。この導電率は20~30波長の大きな直径をもつ銅クラッド誘電性基板でつくられた円形ディスク試料中に励起される数多くのウィスパリングギャラリ(WG)モードの無負荷Q値と,測定された共振周波数とから,間接的に算出される。したがって,広い周波数範囲にわたって一時にテストされる試料について,有効導電率の周波数依存性が容易に得られる。ほとんど同等な導電率が,さまざまな電界分布をもつ2種類のWG共振器(銅クラッドタイプとサンドイッチタイプ)に推定される;これは,自己無矛盾でしかも代替法がまったく無いときには重要な拠りどころとなる。本報告では55~65GHz帯における銅箔の3種類を測定し,電着析出銅箔の導電率は圧延整形した銅箔や両面研磨面をもつ銅箔のそれよりも小さい導電率であるとわかった。この電着銅箔の場合に測定された導電率は周波数が増加するにつれてその値が低下する。これらの基板からつくられるマイクロストリップ線路について測定した伝送損失は本法の評価による導電率から正確に推定できる。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： EHF波 ,  振動モード ,  共振器 ,  *電気伝導率 ,  電気伝導率検出器 ,  銅 ,  クラッド材 ,  誘電体 ,  *プリント基板 ,  複素誘電率 ,  *計測システム ,  マイクロストリップ線路 ,  伝送損失
準シソーラス用語： ウィスパリングギャラリーモード

分類 (3件)： プリント回路  (NA05040O) ,  R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器  (AD07030N) ,  固体デバイス材料  (NC03020K)

引用文献 (12件)：

• IIJIMA, Y. Measurement of complex permittivity and permeability at millimeter wavelength using a free space method. 1999 Intl. Symp. on Electromagnetic Compatibility. 1999, 412-415
• SHIMIZU, T. Simple permittivity measurements by the cut-off waveguide method using 80 GHz cavities. Proc. IEICE Gen. Conf. 2004, March. 2004
• TAKAICHI, R. Back-side relative conductivity measurements of three types of copper-clad dielectric substrates. Proc. IEICE Gen. Conf. 2004, March. 2004
• KOBAYASHI, Y. Microwave characterization of copper-clad dielectric laminate substrates. IEICE Trans. Electron., C. 2007, E90, 12, 2178-2184
• NAKAYAMA, A. Conductivity measurements at the interface between the sintered conductor and dielectric substrate at microwave frequencies. IEEE Trans. Microw. Theory Tech. 2002, 50, 7, 1665-1674

タイトルに関連する用語 (9件)： ウィスパリングギャラリモード ,  共振器 ,  ミリメートル波 ,  銅 ,  クラッド ,  誘電体 ,  ラミネート ,  電気伝導率 ,  評価