3次元計測装置

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：久保幸雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-157069
公開番号（公開出願番号）：特開平10-002712
出願日： 1996年06月18日
公開日（公表日）： 1998年01月06日
要約：

【要約】【課題】ユーザーが計測条件の適否を計測の前又は後に確認して適切な操作を行うことのできる3次元計測装置を提供する。【解決手段】物体にパターン光を投射し、物体で反射したパターン光の反射光に基づいて物体の形状を計測する3次元計測装置において、物体の反射率・撮影距離などの計測条件の適否を判別する条件判別手段と、計測条件が不適正と判別されたときに警告を発する通知手段とを設ける。

請求項（抜粋）：

物体にパターン光を投射し、前記物体で反射した前記パターン光の反射光に基づいて前記物体の形状を計測する3次元計測装置であって、計測条件の適否を判別する条件判別手段と、計測条件が不適正と判別されたときに警告を発する通知手段と、を有したことを特徴とする3次元計測装置。

IPC (3件)：

G01B 11/00 , G01B 11/24 , G06T 7/00

FI (3件)：

G01B 11/00 B , G01B 11/24 A , G06F 15/62 415

引用特許：

審査官引用 (7件)

寸法測定器
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-277524 出願人：株式会社東海理化電機製作所
3次元形状入力装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-132998 出願人：ミノルタ株式会社
光学式変位センサ
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-134010 出願人：松下電工株式会社

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