特許
J-GLOBAL ID:200903000571714944

ワーク形状測定装置及び該装置を用いた形状測定システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 丹羽 宏之 ,  野口 忠夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-279135
公開番号(公開出願番号):特開2004-114203
出願日: 2002年09月25日
公開日(公表日): 2004年04月15日
要約:
【課題】簡単に着脱可能であり、NC加工機の主軸と座標軸Zとを同一軸心上にセット出来、且つ操作が簡便であり、他物の干渉を回避でき、構造簡単・高精度・高信頼性を有するワーク形状測定装置及び該形状測定システムの提供。【解決手段】ワーク形状測定装置200本体を前記NC加工機のXY方向位置検出装置100を有する主軸部01の軸心上に係合して着脱可能に設け、前記ワーク形状測定装置200は、X-Y軸からなる二次元座標面に平行に旋回位置決め調節可能なXY方向位置決め調節機構201と、前記軸心上の上方所定位置の仮想支点Pを中心に円弧状ガイド面202aに沿って所望角度可傾回動自在の走査光照射角調節機構202と、走査光Leを照射・受光してワークの変位量を測定可能な走査光照射・受光手段203とから成ることを特徴とする。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
NC加工機上で操作自在な非接触式のワーク形状測定装置であって、ワーク形状測定装置本体を前記NC加工機のXY方向位置検出装置を有する主軸部の軸心上に係合して着脱可能に設け、前記ワーク形状測定装置は、X-Y軸からなる二次元座標面に平行に旋回位置決め調節可能なXY方向位置決め調節機構と、前記軸心上の上方所定位置の仮想支点を中心に円弧状ガイド面に沿って所望角度可傾回動自在の走査光照射角調節機構と、走査光を照射・受光してワークの変位量を測定可能な走査光照射・受光手段とから成ることを特徴とするワーク形状測定装置。
IPC (2件):
B23Q17/24 ,  G01B11/24
FI (2件):
B23Q17/24 C ,  G01B11/24 A
Fターム (9件):
2F065AA53 ,  2F065FF01 ,  2F065FF44 ,  2F065GG04 ,  2F065MM06 ,  2F065QQ31 ,  2F065UU03 ,  3C029AA01 ,  3C029AA40
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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