特許
J-GLOBAL ID：200903000880029563
環境試験装置及びこれの試験パターンの設定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 詔男 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-060854
公開番号（公開出願番号）：特開2000-258197
出願日： 1999年03月08日
公開日（公表日）： 2000年09月22日
要約：
【要約】【課題】 試験パターンを手作業で入力したり、コンピュータで任意のパターンを構成することなく、試験パターンを短時間且つ容易に入力できるようにする。【解決手段】 予め、試験パターン曲線を専用フォーマットの用紙に記入する。次に、作成した試験パターン曲線をパターン読み取り部2で読み取る。読み取られた試験パターン曲線は、パターン認識によってコードデータに変換される。試験パターン指令部3が、受信したコードデータに基づいて、制御回路4に対して環境パラメータの設定を行う。環境パラメータの設定は、最初に記入された試験パターン曲線が、例えば温度であれば横軸に時間、縦軸に温度のディメンジョンを設定する。そして、制御回路4が、環境パラメータに応じて、環境試験槽5の環境条件を制御する。すなわち、試験パターン曲線が温度特性であれば温度制御を行う。このように、試験パターンを読み取るだけでパターン設定ができる。
請求項（抜粋）：
予め定められた試験パターンのプログラムを入力して、被測定物に対して所定の環境試験を行う環境試験装置において、予め記載された試験パターン曲線を光学的に読み取り、読み取られた試験パターンに基づいて所定の環境試験を行うことを特徴とする環境試験装置。
IPC (3件)：
G01D 21/00
, G01N 17/00
, G05B 19/02
G01D 21/00 N
, G01N 17/00
, G05B 19/02 C
2F076BA05
, 2F076BE06
, 2G050BA11
, 2G050DA03
, 2G050EA01
, 2G050EA02
, 2G050EA04
, 2G050EC10
, 5H219AA37
, 5H219AA38
, 5H219BB02
, 5H219BB03
, 5H219BB05
, 5H219CC10
, 5H219DD05
, 5H219DD10
, 5H219EE01
, 5H219FF01
