特許
J-GLOBAL ID:200903000899343986
金属製品の疵検査方法および装置と疵消去方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (4件):
石田 敬
, 鶴田 準一
, 亀松 宏
, 西山 雅也
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-161020
公開番号(公開出願番号):特開2004-069681
出願日: 2003年06月05日
公開日(公表日): 2004年03月04日
要約:
【課題】金属製品の製造過程において金属表層に発生し、製造後も金属表層に残存する疵の組成および/または形態を正確に把握し、疵の発生箇所を特定する疵検査方法および装置を提供する。【解決手段】金属製品の製造過程で生成する表面疵を検査する方法において、(a)金属製品の表層と電極の間に電場を印加して、該表層上の表面疵と電極の間に、選択的にスパーク放電を発生させ、(b)上記放電による発光スペクトルを解析して、表面疵の組成および/または形態を特定し、さらに、(c)上記組成および/または形態に基づいて、表面疵の原因物質および/または発生箇所を特定することを特徴とする金属製品の疵検査方法。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
金属製品の製造過程で生成する表面疵を検査する方法において、
(a)金属製品の表層と電極の間に電場を印加して、該表層上の表面疵と電極の間に、選択的にスパーク放電を発生させ、
(b)上記放電による発光スペクトルを解析して、表面疵の組成および/または形態を特定する、
ことを特徴とする金属製品の疵検査方法。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (10件):
2G043AA01
, 2G043AA03
, 2G043CA05
, 2G043EA09
, 2G043GA07
, 2G043GB12
, 2G043GB19
, 2G043HA01
, 2G043JA01
, 2G043NA01
引用特許:
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