特許
J-GLOBAL ID：200903001433073721
末端電子機器の検査用接続装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
若田 勝一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-286218
公開番号（公開出願番号）：特開2003-090858
出願日： 2001年09月20日
公開日（公表日）： 2003年03月28日
要約：
【要約】【課題】テスターによる電子機器やこれにつながる系統の検査が容易かつ正確に行え、信頼性の高い検査結果が得られる電子機器の検査用接続装置を提供する。【解決手段】末端電子機器1側にマスター装置2側ケーブル3a〜3cとの接続のために設けられる接続具5に着脱自在に接続される第1の接続具9と、ケーブル3a〜3cの先端に設けられた接続具4に着脱自在に接続される第2の接続具10と、第1の接続具9と第2の接続具10の各該当する端子間をそれぞれ接続するリード線11a〜11cと、各リード線11a〜11cに結合され、テスター7のリード棒12a、12bが接触可能なアダプタ13a〜13cとにより検査用接続装置6を構成する。テスター7のリード棒12a、12bをアダプタ13a〜13cに接触させて検査を行う。
請求項（抜粋）：
マスター装置にケーブルおよび接続具を介して接続される末端電子機器または該末端電子機器に接続される系統をテスターにより検査する際に使用する検査用接続装置において、前記末端電子機器側に前記ケーブル接続のために設けられる接続具に着脱自在に接続される第1の接続具と、前記ケーブルの先端に設けられた接続具に着脱自在に接続される第2の接続具と、前記第1の接続具と前記第2の接続具の各該当する端子間をそれぞれ接続するリード線と、前記各リード線に結合され、テスターのリード棒が接触可能なアダプタとからなることを特徴とする電子機器の検査用接続装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (10件)：
2G011AC14
, 2G011AD00
, 2G011AE00
, 2G011AE04
, 2G011AF01
, 2G014AA02
, 2G014AA14
, 2G014AB27
, 2G014AB32
, 2G014AC00
