特許
J-GLOBAL ID:200903001801743546
充放電制御システム
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
五十嵐 俊明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-062613
公開番号(公開出願番号):特開2004-271342
出願日: 2003年03月10日
公開日(公表日): 2004年09月30日
要約:
【課題】二次電池の劣化判定を誤ることのない充放電制御システムを提供する。【解決手段】二次電池の充放電電流Iと充放電電圧Vとを一定時間毎に測定し(S112)、不揮発性RAMに格納された充放電電流I及び充放電電圧Vの測定値の一定数量のデータから回帰分析を行って電池の内部抵抗Rを算出する(S122)と共に、充放電電流の積算値から電池の累積充電電気量又は累積放電電気量を算出し、内部抵抗R及び累積充放電電気量の算出値に基づいて電池の劣化状態を判定する(S128)。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
二次電池の充放電電流と充放電電圧とを一定時間毎に測定し、該測定値から充電状態を推定して前記電池の充放電を制御する充放電制御システムにおいて、前記充放電電流及び充放電電圧測定値の一定数量のデータから回帰分析を行って前記電池の内部抵抗を算出すると共に、前記充放電電流の積算値から前記電池の累積充電電気量又は累積放電電気量を算出し、前記内部抵抗及び前記累積充放電電気量の算出値に基づいて前記電池の劣化状態を判定することを特徴とする充放電制御システム。
IPC (5件):
G01R31/36
, B60L3/00
, H01M10/44
, H01M10/48
, H02J7/00
FI (5件):
G01R31/36 A
, B60L3/00 S
, H01M10/44 P
, H01M10/48 P
, H02J7/00 Y
Fターム (34件):
2G016CB05
, 2G016CB06
, 2G016CB22
, 2G016CB23
, 2G016CB32
, 2G016CB33
, 2G016CC04
, 2G016CC07
, 2G016CC13
, 2G016CC16
, 2G016CC24
, 2G016CC27
, 2G016CC28
, 2G016CF06
, 5G003DA07
, 5G003EA08
, 5G003GC05
, 5H030BB01
, 5H030BB21
, 5H030FF42
, 5H030FF43
, 5H030FF44
, 5H115PA14
, 5H115PC06
, 5H115PG04
, 5H115PI16
, 5H115QN03
, 5H115TI01
, 5H115TI05
, 5H115TI06
, 5H115TO05
, 5H115TR19
, 5H115TU16
, 5H115TU17
引用特許: