特許

J-GLOBAL ID：200903001812777205

遠隔計測方法及び装置

発明者： 山田 浩司
出願人/特許権者： 日本鋼管株式会社
代理人 (1件)： 佐々木 宗治 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-091687
公開番号（公開出願番号）：特開2001-280960
出願日： 2000年03月29日
公開日（公表日）： 2001年10月10日
要約：

【要約】【課題】 足場を必要とせず、被測定物と離れた位置からの遠隔計測により被測定物の損傷や劣化の状態を定量的に求められる遠隔計測方法及び装置。【解決手段】 RC床版40と離れた位置にデジタルカメラ11及びスケール投光器12を設け、RC床版40のひび割れ41等の欠陥部をスケール投光器12からのリングスケール投影光と共にデジタルカメラ11により撮影し、この撮影画像をパソコン21の表示画面に表示させると共に、前記リングスケールを参照して前記RC床版40のひび割れの長さ、幅、分布等の欠陥部の定量的データを求め、該データの解析を行い、前記表示画像データ及び解析結果データを記憶器に記録する。

請求項（抜粋）：

被測定物と離れた位置に撮影手段及びスケール投光手段を設けて、該スケール投光手段は該撮影手段の撮影視野内に長さまたは面積のスケール光を投光し、該撮影手段は前記被測定物の表面状態を前記スケール投光手段の投光による長さまたは面積のスケール投影光と共に撮影して該撮影画像データを出力し、前記撮影手段の出力する長さまたは面積のスケール投影光を含む被測定物の表面状態の画像データを入力して表示手段に表示させると共に、該表示手段に表示された画像データに基づきデータ解析手段が前記被測定物の表面の欠陥状態を示す物理量の定量的なデータを求めて該データの解析を行い、前記表示手段の表示する画像データ及びデータ解析手段の解析結果のデータをデータ記憶手段に記録することを特徴とする遠隔計測方法。

IPC (3件)：

G01C 15/00 ,  G01B 11/02 ,  G01N 21/88

FI (4件)：

G01C 15/00 A ,  G01C 15/00 L ,  G01B 11/02 H ,  G01N 21/88 Z

Fターム (32件)：

2F065AA06 ,  2F065AA22 ,  2F065AA49 ,  2F065AA58 ,  2F065DD06 ,  2F065EE11 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF11 ,  2F065FF61 ,  2F065GG04 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL06 ,  2F065PP11 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ25 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  2G051AA90 ,  2G051AB01 ,  2G051AB02 ,  2G051BA20 ,  2G051BC07 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051ED04 ,  2G051FA10

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 寸法測定方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-190093   出願人：株式会社日立製作所
• 測長装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-017162   出願人：株式会社モリテックス
• 特開平1-242905
  
• 特開平1-242905
  
• 特開平1-195351