特許
J-GLOBAL ID:200903002566420242

半導体レーザ装置及びその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 安富 耕二 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-259654
公開番号(公開出願番号):特開平10-107372
出願日: 1996年09月30日
公開日(公表日): 1998年04月24日
要約:
【要約】【課題】 戻りレーザ光の反射を防止することができる半導体レーザ装置の提供と、戻りレーザ光反射防止加工を簡単に、かつ短時間で行うことができる製造方法の提供を課題とする。【解決手段】 半導体レーザ素子3と、半導体レーザ素子3を固定するサブマウント7を備え、半導体レーザ素子3とサブマウント7のレーザ出光点8側に位置する端面3a,7aに外部レーザ光を照射して戻りレーザ光の反射防止加工領域3b,7bを形成した。また、半導体レーザ素子3と、半導体レーザ素子3を固定するサブマウント7と、これらを密閉収納するパッケージ2を備える半導体レーザ装置1を製造する際に、パッケージ2に設けられたレーザ光出射用の窓11を介して外部からレーザ光Lを照射することにより、半導体レーザ素子3若しくはサブマウント7に戻りレーザ光の反射防止加工を施すことを特徴とする。
請求項(抜粋):
出光点側の端面にレーザ光を照射して戻りレーザ光の反射防止加工を施した半導体レーザ素子を備えることを特徴とする半導体レーザ装置。
引用特許:
審査官引用 (9件)
  • 特開平1-161792
  • 半導体レーザ装置およびその製造方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-276932   出願人:松下電子工業株式会社
  • 特開平2-084786
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