特許
J-GLOBAL ID：200903002657488176

光波距離測定方法、距離測定プログラム及び距離測定装置

発明者：
矢部 雅明

矢部 雅明 について


出願人/特許権者：
株式会社トプコン

株式会社トプコン について


代理人 (1件)： 三好 祥二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-255466
公開番号（公開出願番号）：特開2008-076212
出願日： 2006年09月21日
公開日（公表日）： 2008年04月03日
要約：
【課題】同時に多数の測定対象物について、多数回の距離測定を可能とし、又近接した測定対象物についても距離測定を可能とする。【解決手段】所定の広がり角を有するパルスレーザ光線を発する光源部6と、1以上の測定対象物11からの反射光36′を受光する受光部9と、受光制御回路を有し、前記受光部からの最初の受光信号を基に前記測定対象物についての測定データを取得する測距部32と、前記測距部は前記受光部が1つのパルスレーザ光線で2以上の反射光を受光した場合、1つのパルスレーザ光線で最初に得られる受光信号を検出し、前記制御演算部は少なくとも1回検出した後は検出した受光信号について検出を制限し、制限後は制限した以外の発光後最初に得られる受光信号を検出可能とする様前記受光制御回路を制御し、発光パルス毎に弁別して受光信号を検出し、弁別した受光信号に基づき複数の測定対象物迄の距離を個別に測定する様構成した。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
測定対象物からの反射光を受光して前記測定対象物迄の距離を測定する光波距離測定方法に於いて、複数の測定対象物を含む様に所定の広がり角を有するパルスレーザ光線を照射する工程と、前記複数の測定対象物からの反射光を発光パルス毎に弁別して検出する工程と、弁別した反射光を検出した結果に基づき前記複数の測定対象物迄の距離を測定する工程とを有することを特徴とする光波距離測定方法。
IPC (2件)：
G01S 17/10 ,  G01C 3/06
FI (3件)：
G01S17/10 ,  G01C3/06 120Q ,  G01C3/06 140
Fターム (39件)：
2F112AD01 ,  2F112BA03 ,  2F112BA05 ,  2F112CA12 ,  2F112DA04 ,  2F112DA09 ,  2F112DA19 ,  2F112DA25 ,  2F112DA28 ,  2F112EA11 ,  2F112FA03 ,  2F112FA41 ,  2F112FA45 ,  2F112GA01 ,  2F112GA03 ,  5J084AA05 ,  5J084AD01 ,  5J084BA04 ,  5J084BA13 ,  5J084BA20 ,  5J084BA36 ,  5J084BA51 ,  5J084BA57 ,  5J084BB02 ,  5J084BB11 ,  5J084BB20 ,  5J084BB38 ,  5J084CA03 ,  5J084CA12 ,  5J084CA19 ,  5J084CA52 ,  5J084CA53 ,  5J084CA55 ,  5J084CA57 ,  5J084DA01 ,  5J084DA07 ,  5J084DA08 ,  5J084EA05 ,  5J084EA07
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (6件)
  • 距離測定装置および距離測定方法
    公報種別：公表公報   出願番号：特願2004-528294   出願人：ローベルトボツシユゲゼルシヤフトミツトベシユレンクテルハフツング
  • 距離測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-293360   出願人：株式会社トプコン
  • レーダ装置および距離測定方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-029058   出願人：TDK株式会社
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