特許
J-GLOBAL ID：200903002984782266

表示装置

発明者：
木村 洋平

木村 洋平 について

, 
中山 浩治

中山 浩治 について


出願人/特許権者：
東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社

東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社 について


代理人 (8件)： 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  蔵田 昌俊 ,  峰 隆司 ,  福原 淑弘 ,  村松 貞男 ,  橋本 良郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-188465
公開番号（公開出願番号）：特開2008-015367
出願日： 2006年07月07日
公開日（公表日）： 2008年01月24日
要約：
【課題】信頼性試験における不良の発生及び製造歩留まりの低下を防止することが可能な検査部を備えた表示装置を提供することを目的とする。【解決手段】 表示装置において、アクティブエリアの検査を行うための検査部は、アクティブエリアの検査を行う際に検査信号が供給される主要部55A、及び、主要部55Aから離間した島状の電極部55Bを有する検査用配線55と、主要部55Aと信号供給配線との間に配置され電極部55Bをゲート電極とする薄膜トランジスタからなるスイッチング素子61及び62と、検査用配線とは絶縁層を介して異なる層に配置されるとともに画素電極と同一材料によって形成され絶縁層に形成されたコンタクトホールを介して主要部55Aと電極部55Bとを電気的に接続するジャンバー部Jと、を備えたことを特徴とする。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
それぞれ画素電極を備えた複数の画素、及び、各画素に駆動信号を供給するための複数の信号供給配線を有するアクティブエリアと、 前記アクティブエリア外に配置され、前記アクティブエリアの検査を行うための検査部と、を備え、 前記検査部は、 前記アクティブエリアの検査を行う際に検査信号が供給される主要部、及び、主要部から離間した島状の電極部を有する検査用配線と、 前記主要部と前記信号供給配線との間に配置され、前記電極部をゲート電極とする薄膜トランジスタからなるスイッチング素子と、 前記検査用配線とは絶縁層を介して異なる層に配置されるとともに前記画素電極と同一材料によって形成され、前記絶縁層に形成されたコンタクトホールを介して前記主要部と前記電極部とを電気的に接続するジャンバー部と、 を備えたことを特徴とする表示装置。
IPC (3件)：
G09F 9/30 ,  G02F 1/136 ,  G09F 9/00
FI (4件)：
G09F9/30 330Z ,  G02F1/1368 ,  G09F9/30 338 ,  G09F9/00 352
Fターム (18件)：
2H092JA25 ,  2H092JB56 ,  2H092JB77 ,  2H092MA56 ,  2H092NA29 ,  2H092NA30 ,  5C094AA31 ,  5C094AA42 ,  5C094BA03 ,  5C094BA27 ,  5C094BA43 ,  5C094DA09 ,  5C094DA13 ,  5C094DB01 ,  5C094EA03 ,  5G435AA19 ,  5G435BB12 ,  5G435KK10
引用特許：
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (8件)
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