特許
J-GLOBAL ID:200903003005283692

正帯電型有機感光体を用いての画像形成方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小野 尚純 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-098029
公開番号(公開出願番号):特開2003-295527
出願日: 2002年03月29日
公開日(公表日): 2003年10月15日
要約:
【要約】 (修正有)【課題】転写電流値の調整なしで、転写メモリを有効防止する。【解決手段】 正帯電型有機感光体を使用し、反転現像方式及び転写バイアス電位を利用する画像形成を行う方法において、前記感光体について、予め、転写時の転写電流値毎に、感光層厚みと転写メモリにより生じる主帯電時の感光体表面の電位差との関係を測定し、前記で得られた感光層厚みと電位差との関係から、厚み差が15μm以上にわたる領域において、±10V以内の電位差を示すような転写電流となるようにして転写バイアス電位を印加して転写を行うことを特徴とする画像形成方法。
請求項(抜粋):
正孔輸送剤と電子輸送剤とを感光層中に含有する正帯電型有機感光体を使用し、該感光体を正極性に主帯電し、次いで画像露光を行うことにより該感光体表面に静電潜像を形成し、該静電潜像を反転現像方式により現像してトナー像を形成し、転写ローラを用いての転写バイアス電位の印加により、該トナー像を転写シート表面に転写、感光体表面に残存するトナーをクリーニングする画像形成行程を繰り返し行うことにより画像形成を行う方法において、前記正帯電型有機感光体として、下記一般式(1):【化1】式中、R1は、アルキル基またはアリール基であり、R2は、アルキル基、アリール基、または式:-OR3(R3は、アルキル基またはアリール基)で表される基である、で表されるナフトキノン化合物を電子輸送剤として含有するものを使用し、前記感光体について、予め、転写時の転写電流値毎に、感光層厚みと転写メモリにより生じる主帯電時の感光体表面の電位差との関係を測定し、前記で得られた感光層厚みと電位差との関係から、厚み差が15μm以上にわたる領域において、±10V以内の電位差を示すような転写電流となるようにして転写バイアス電位を印加して転写を行うことを特徴とする画像形成方法。
IPC (7件):
G03G 15/00 ,  G03G 5/04 ,  G03G 5/06 311 ,  G03G 5/06 313 ,  G03G 5/06 314 ,  G03G 5/06 322 ,  G03G 15/16 103
FI (7件):
G03G 15/00 ,  G03G 5/04 ,  G03G 5/06 311 ,  G03G 5/06 313 ,  G03G 5/06 314 A ,  G03G 5/06 322 ,  G03G 15/16 103
Fターム (62件):
2H068AA20 ,  2H068AA31 ,  2H068BA13 ,  2H068BA14 ,  2H068BA22 ,  2H068BA63 ,  2H068BA64 ,  2H068FC02 ,  2H068FC08 ,  2H068FC11 ,  2H171FA09 ,  2H171FA13 ,  2H171FA15 ,  2H171GA01 ,  2H171GA15 ,  2H171QA08 ,  2H171QA17 ,  2H171QB49 ,  2H171QC11 ,  2H171TB02 ,  2H171UA02 ,  2H171UA03 ,  2H171UA04 ,  2H171UA05 ,  2H171UA06 ,  2H171UA07 ,  2H171VA01 ,  2H171VA03 ,  2H171VA05 ,  2H200FA01 ,  2H200FA02 ,  2H200FA05 ,  2H200FA18 ,  2H200GA13 ,  2H200GA23 ,  2H200GA34 ,  2H200GA45 ,  2H200GA46 ,  2H200GA52 ,  2H200GA54 ,  2H200GA56 ,  2H200GA59 ,  2H200HA03 ,  2H200HA29 ,  2H200HB12 ,  2H200HB22 ,  2H200JA02 ,  2H200JA28 ,  2H200JA29 ,  2H200JA30 ,  2H200NA02 ,  2H200NA09 ,  2H200PA04 ,  2H200PA06 ,  2H200PA10 ,  2H200PA20 ,  2H200PA23 ,  2H200PA30 ,  2H200PB02 ,  2H200PB04 ,  2H200PB25 ,  2H200PB40
引用特許:
審査官引用 (6件)
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