CT装置

発明者： ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (3件)：長谷川芳樹 , 塩田辰也 , 寺崎史朗
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-233565
公開番号（公開出願番号）：特開2004-077132
出願日： 2002年08月09日
公開日（公表日）： 2004年03月11日
要約：

【課題】検出器側でフォトンエネルギーを識別することで、構成成分分析やその分布を可視化する新しい機能を有するCT装置を提供する。また、物理的なフィルタを用いず、ビームハードニングによるアーチファクトがない被検体内部の画像を再構成できるCT装置を提供する。【解決手段】CT装置1が有する検出器10は複数の半導体素子12を備え、半導体素子12が出力する信号の波高を弁別する機能をもつので、各々の半導体素子12に入射する特定のエネルギーのフォトンの個数を計数することができる。そして、この計数値に基づいてコンピュータ31が画像を再構成する。したがって、適当なフォトンエネルギー成分を抽出することで、構成成分分析や構成成分の三次元的な分布の可視化が可能となる。また、低エネルギーの多重散乱フォトンによるビームハードニングの影響をなくして、アーチファクトのない画像を再構成できる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

放射線を照射する放射線照射手段と、計測空間を挟んで前記放射線照射手段と対向して配置されると共に、前記計測空間を貫く所定の中心軸の軸方向と前記所定の中心軸を通過する放射線の照射方向とに垂直な方向に配列された複数の半導体素子と、前記複数の半導体素子それぞれに前記放射線に含まれるフォトンが入射する度に、当該入射するフォトンのエネルギーに応じた信号を出力する信号生成手段と、少なくとも一つの所定の閾値に基づいて設定される範囲の波高をもつ前記信号の数を前記複数の半導体素子ごとに計数する計数手段とを有する検出手段と、前記計測空間におかれた被検体と、前記検出手段及び前記放射線照射手段との相対的な角度を、前記所定の中心軸を中心として所定角度ごとに変化させる回転手段と、前記計数手段によって計数される計数値に基づいて、前記被検体の断層画像の再構成を行う演算手段とを備えるCT装置。

IPC (2件)：

G01N23/04 , A61B6/03

FI (3件)：

G01N23/04 , A61B6/03 320R , A61B6/03 373

Fターム (16件)：

2G001AA01 , 2G001BA11 , 2G001CA01 , 2G001DA01 , 2G001EA03 , 2G001GA01 , 2G001HA09 , 2G001HA13 , 2G001HA14 , 2G001KA01 , 2G001LA01 , 2G001PA12 , 4C093AA22 , 4C093EA07 , 4C093EB13 , 4C093FC24

引用特許：

審査官引用 (11件)

特開平1-135331
容器内放射性廃棄物識別方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-125637 出願人：株式会社日立エンジニアリングサービス
X線検出方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-272289 出願人：株式会社日立製作所

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