特許
J-GLOBAL ID：200903003120134161

光学式ピンホール検査装置およびその方法

発明者：
河原林 英晴

河原林 英晴 について


出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社

松下電器産業株式会社 について


代理人 (3件)： 岩橋 文雄 ,  坂口 智康 ,  内藤 浩樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-148668
公開番号（公開出願番号）：特開2005-331312
出願日： 2004年05月19日
公開日（公表日）： 2005年12月02日
要約：
【課題】一画素サイズ以下の微細なピンホールを検出できる特徴を持ち、シート全面に対して安価にかつ高速に微細なピンホールを検出する光学式ピンホール検査装置を提供することを目的とするものである。【解決手段】CCD10を内蔵したCCDカメラ1と、CCDカメラ1に取り付けるレンズ2と、被検査シート9に対しCCDカメラ1と反対側に配置した所定光量を発光する透過照明3とから構成され、ピンホール9bの通過光3bを、ピンホール9b以外の透過光3dや反射光3eに比べ非常に強くし、一画素の面積サイズより小さいピンホール9bの通過光3bで一画素以上を明るく写した画像を得る。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
画像スケールで一画素の面積サイズを検出対象のピンホールの面積サイズより大きくしたCCDカメラと、上記CCDカメラに取り付けるレンズと、被検査シートに対し上記CCDカメラと反対側に配置した所定光量を発光する透過照明とから構成された光学式ピンホール検査装置。
IPC (3件)：
G01N21/894 ,  G01N21/956 ,  H05K3/00
FI (3件)：
G01N21/894 Z ,  G01N21/956 B ,  H05K3/00 Q
Fターム (9件)：
2G051AA65 ,  2G051AA90 ,  2G051AB04 ,  2G051BB01 ,  2G051BB07 ,  2G051CA04 ,  2G051CB02 ,  2G051CC07 ,  2G051EA16
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (12件)
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