特許
J-GLOBAL ID:200903003392092883

自動分析システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 井上 学
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-126201
公開番号(公開出願番号):特開2008-281453
出願日: 2007年05月11日
公開日(公表日): 2008年11月20日
要約:
【課題】 本発明の目的は、複数の分析ユニットに対して、効率的な連続測定が可能であって、特に緊急を要する検体の測定の際は、分析ユニット間の処理待ち時間を少なくできる自動分析システムを提供することにある。【解決手段】 ラックを収納しランダムアクセス可能な複数のバッファ部を備え、少なくとも1つのバッファ部を複数の分析ユニット間のラックを搬送する経路の間に配置する構造とした自動分析システム。【効果】 本発明によれば、複数の分析ユニットで構成される自動分析システムにおいて、再検用の検体の待機場所を充分に確保すると共に、精度管理試料や緊急検体などの測定要求に対しても、個々の分析ユニットの処理能力を最大限に発揮させ、検査依頼に迅速に対応することが可能になる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
生体サンプルを分析する複数個の分析ユニットと、 上記サンプルを有するラックを複数収納でき、かつ、少なくとも1つの前記分析ユニットに任意のラックを供給できる複数個のバッファを備え、 前記バッファの少なくとも1つを、少なくとも2つの前記分析ユニット間のラックを搬送する経路間に配置する構造であることを特徴とする自動分析システム。
IPC (2件):
G01N 35/02 ,  G01N 35/04
FI (3件):
G01N35/02 H ,  G01N35/04 G ,  G01N35/04 H
Fターム (7件):
2G058AA07 ,  2G058CB04 ,  2G058CB08 ,  2G058CB15 ,  2G058CB16 ,  2G058GE01 ,  2G058HA04
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 自動分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2003-074752   出願人:株式会社日立ハイテクノロジーズ
審査官引用 (3件)
  • 検体搬送方法および装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-056423   出願人:株式会社日立製作所
  • 自動分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-274611   出願人:株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社
  • 自動分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-338213   出願人:オリンパス光学工業株式会社

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