特許
J-GLOBAL ID:200903003514901877
光信号品質劣化要因監視方法および装置
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
谷 義一
, 阿部 和夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-036996
公開番号(公開出願番号):特開2005-214984
出願日: 2005年02月14日
公開日(公表日): 2005年08月11日
要約:
【課題】 サービスあたりの通信容量が大きく、多様な信号形式、信号ビットレートを有するマルチメディアサービスを収容できるような経済的で信頼性の高い光ネットワークを実現するのに寄与する光信号品質劣化要因監視方法および装置を提供する。【解決手段】 波形劣化パラメータ評価工程によって得られた波形劣化パラメータの測定値と光信号対雑音比パラメータ評価工程によって得られた光信号対雑音比パラメータの測定値とを利用して光信号品質劣化要因を評価する。波形劣化パラメータと光信号対雑音比パラメータの両方を規定し評価することによって、光信号品質劣化の主要因が光信号対雑音比劣化なのか波形劣化なのかを判別する。【選択図】 図16
請求項(抜粋):
ある平均時間内の光信号強度分布から得られる振幅ヒストグラムのうち、あらかじめ定めた強度しきい値よりも高い振幅ヒストグラム部分から想定した「レベル1」に相当する振幅ヒストグラム分布関数をg1とし、該「レベル1」の振幅ヒストグラム分布関数g1の標準偏差s1を波形劣化パラメータとし、光信号強度と光雑音強度の比を光信号対雑音パラメータとして、
被測定光信号を分岐する光分岐工程と、
前記光分岐工程により分岐された一方の被測定光信号から光信号振幅ヒストグラムを得る光信号振幅ヒストグラム測定工程と、
前記光分岐工程により分岐された他方の被測定光信号から光信号・光雑音強度の測定を行う光信号・光雑音強度測定工程と、
前記光信号振幅ヒストグラム測定工程によって得られる前記光信号振幅ヒストグラムから光信号品質パラメータである前記波形劣化パラメータを得る波形劣化パラメータ評価工程と、
前記光信号・光雑音強度測定工程によって得られる前記光信号・光雑音強度から光信号品質パラメータである前記光信号対雑音比パラメータを得る光信号対雑音比パラメータ評価工程と、
前記波形劣化パラメータ評価工程によって得られた前記波形劣化パラメータの測定値と前記光信号対雑音比パラメータ評価工程によって得られた前記光信号対雑音比パラメータの測定値とを利用して光信号品質劣化要因を評価する光信号品質評価工程であって、該波形劣化パラメータと該光信号対雑音比パラメータの両方を規定し評価することによって、光信号品質劣化の主要因が光信号対雑音比劣化なのか波形劣化なのかを判別する光信号品質評価工程と
を有することを特徴とする光信号品質劣化要因監視方法。
IPC (5件):
G01J11/00
, G01M11/02
, H04B10/08
, H04B17/00
, H04J14/08
FI (6件):
G01J11/00
, G01M11/02 J
, G01M11/02 K
, H04B17/00 M
, H04B9/00 K
, H04B9/00 D
Fターム (45件):
2G065AA04
, 2G065AA12
, 2G065AB14
, 2G065BA01
, 2G065BB14
, 2G065BB25
, 2G065BB36
, 2G065BC03
, 2G065BC13
, 2G065BC14
, 2G065BC15
, 2G065BC33
, 2G065BD01
, 2G065CA12
, 2G065CA23
, 2G065DA13
, 2G086KK01
, 2G086KK02
, 5K042AA01
, 5K042BA08
, 5K042BA10
, 5K042CA10
, 5K042DA14
, 5K042DA16
, 5K042DA17
, 5K042EA01
, 5K042EA03
, 5K042FA25
, 5K102AA63
, 5K102AC01
, 5K102AD12
, 5K102AH23
, 5K102LA03
, 5K102LA11
, 5K102LA26
, 5K102MH03
, 5K102MH14
, 5K102MH17
, 5K102MH22
, 5K102MH32
, 5K102PD12
, 5K102RD02
, 5K102RD03
, 5K102RD04
, 5K102RD28
引用特許:
出願人引用 (5件)
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EPC公開番号 EP0920250A2、米国出願(未公開)USP Application 09/204,001
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光信号品質モニタ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-229659
出願人:日本電信電話株式会社
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光信号波形の測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-124045
出願人:日本電信電話株式会社
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審査官引用 (2件)
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光信号品質モニタ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-229659
出願人:日本電信電話株式会社
-
光信号波形の測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-124045
出願人:日本電信電話株式会社
引用文献:
出願人引用 (6件)
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電子情報通信学会技術研究報告, 20000204, Vol.99 No.605, p.55〜60
-
IEEE Photonics Technology Letters, 200104, Vol.13 No.4, p.385〜387
-
2000年電子情報通信学会通信ソサイエティ大会講演論文集2, 20000907, p.492〜493
-
1999年電子情報通信学会通信ソサイエティ大会講演論文集2, 19990816, p.251
-
1999年電子情報通信学会総合大会講演論文集 通信(2), 19990308, p.529
-
Electronics Letters, 1998, Vol.34 No.22, p.2152〜2154
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審査官引用 (1件)
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