特許
J-GLOBAL ID：200903003829139515
光放射圧による微粒子の保持方法および変位測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山川 政樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-125488
公開番号（公開出願番号）：特開平9-304266
出願日： 1996年05月21日
公開日（公表日）： 1997年11月28日
要約：
【要約】【課題】 保持する対象に応じた高効率の光放射圧による微粒子の保持方法、およびトラップされた微粒子の変位を高速にかつ高分解能で測定できる変位測定方法を提供することを目的とする。【解決手段】 平行光ビームを変倍レンズ群を通過させた後に光軸上で対向させた2つのコーンレンズからなるコーンレンズ組を通過させることにより、光軸を中心とする中央部の光強度分布がその周辺部よりも小さいリング形状ビームにし、この変倍レンズ群の倍率またはコーンレンズ組のレンズ間距離を変化させることによりリング形状のトラッピング用光ビームのリング幅またはビーム径を可変とした。また、トラッピング用光ビームと変位測定用光ビームに異なる波長を持ったビームを用い、臨界角法によって微粒子の変位を測定することとした。
請求項（抜粋）：
トラッピング用光ビームを集光レンズで絞って微粒子に照射する光放射圧による微粒子の保持方法において、前記トラッピング用光ビームは、平行光ビームを変倍レンズ群を通過させた後に光軸上で対向させた2つのコーンレンズからなるコーンレンズ組を通過させて光軸を中心とする中央部の光強度分布がその周辺部よりも小さいリング形状ビームにし、前記変倍レンズ群の倍率または前記コーンレンズ組のレンズ間距離を変化させることにより前記リング形状ビームのリング幅またはビーム径を可変とすることを特徴とする光放射圧による微粒子の保持方法。
IPC (4件)：
G01N 15/14
, G01B 11/00
, H01S 3/00
, H01S 3/101
G01N 15/14 A
, G01B 11/00 F
, H01S 3/00 A
, H01S 3/101
